In unserer licht- und sichtgesteuerten Welt sind bildgebende Systeme von größter Bedeutung. In diesem Zusammenhang sind insbesondere Mikroskope das Mittel der Wahl, um z. B. Einblicke in die mikroskopische und submikroskopische Welt zu gewinnen. Herkömmliche optische Mikroskopie-Techniken sind jedoch in der Regel in ihrer Auflösung begrenzt - eine direkte Folge grundlegender physikalischer Gesetze. Überauflösende Methoden hingegen erfordern das Einbringen aktiv emittierender Moleküle, so genannter Fluorophore, in die Probe, d. h. die Einbettung unzähliger punktförmiger Lichtquellen. Dieser recht invasive Ansatz ist nicht immer möglich oder erwünscht. Daher besteht ein großer Bedarf an nicht-invasiven nanoskopischen Bildgebungsmodalitäten.
In ihrer Studie zeigen Jörg Eismann und Peter Banzer nun, dass durch die Messung des Lichtfeldes nach seiner Wechselwirkung mit einer von einem fokussierten Laserstrahl beleuchteten Probe sehr feine Details abgerufen werden können, wenn Intensität und Polarisation des gestreuten Lichts in ihren Winkel- und Raumverteilungen analysiert werden. Um ihre neue Methode zu testen, messen sie die Größe und Position von zufällig verteilten Nanopartikeln. Diese Parameter können sehr genau bestimmt werden, selbst wenn sich die Partikel berühren.
Der Artikel wurde kürzlich in Optica veröffentlicht. Weitere Einzelheiten finden Sie in dem Artikel selbst und in den Pressemitteilungen (siehe Links unten).
J. S. Eismann and P. Banzer, Sub-diffraction-limit Fourier-plane laser scanning microscopy, Optica 9, 455-460 (2022); https://doi.org/10.1364/OPTICA.450712;
Highlighted auf Laser Focus World, OPTICA, EurekAlert!, Phys.org, ScienceDaily, etc.
Kontakt: Peter Banzer; Optics of Nano and Quantum Materials (website)
